什么是高加速試驗？

　　高加速試驗分高加速壽命試驗(Highly Accelerated Life Test， 簡稱：“HALT”)和高加速應力篩選(Highly Accelerated Stress Screen， 簡稱“HASS”)，高加速試驗最早是美國軍方所延伸出來的設計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標準產(chǎn)品驗證方法;是幫助制造商在產(chǎn)品設計和加工階段盡快獲得高可靠性的兩大有力工具。

　　其中，HALT用以暴露與產(chǎn)品設計有關的早期失效故障，同時也用于提高產(chǎn)品在有效壽命期內(nèi)抗隨機故障的壯實度;HASS應用于產(chǎn)品制造階段，幫助減少產(chǎn)品與制造工藝有關的早期失效率。

　　HALT采用對樣品系統(tǒng)地施加步進應力的方法，讓樣品承受逐步增加的環(huán)境應力(振動、溫度等)、附加應力(電源周期通斷、電壓拉偏和頻率拉偏等) 和工作應力來快速激發(fā)產(chǎn)品的設計缺陷，暴露設計薄弱環(huán)節(jié)，確定產(chǎn)品的工作極限和破壞極限，從而在短期內(nèi)為產(chǎn)品改進設計提供信息。在應力步進施加過程中各量級應力可以大大超出技術規(guī)范極限。

　　HALT共分為5個主要步驟，即：低溫應力步進、高溫應力步進、高速溫度交變循環(huán)應力、隨機振動步進、溫度交變循環(huán)及振動綜合應力步進。HALT通過步進、交變應力方法，逐步將單一應力或組合應力施加到產(chǎn)品上，并留出足夠多的時間進行產(chǎn)品檢測以便于故障觀測。隨著試驗的逐步進行，會找出產(chǎn)品的*個故障。

　　隨著試驗的繼續(xù)進行，步進應力不斷增加或步驟的變化，將出現(xiàn)第二個故障，第三個故障，直至產(chǎn)品的功能完喪失，或試驗設備不能再繼續(xù)提供更高的應力值輸出，此時試驗結束，這一過程需要詳細的記錄產(chǎn)品發(fā)生變化的信息，以及出現(xiàn)的故障模式，包括發(fā)生的時間、對應的應力的條件、故障模式以及相關參數(shù)等信息，有些產(chǎn)品恢復到常溫或應力消除后仍正常工作，有些產(chǎn)品則不能正常工作，由此可以判斷，HALT試驗是一種破壞性試驗。

　　HALT和HASS試驗使用戶對產(chǎn)品建立了信譽，并對產(chǎn)品質(zhì)量有一種期望。通過這些試驗技術能夠在很大程度上提高產(chǎn)品質(zhì)量，增強產(chǎn)品競爭力。通過HALT增強了產(chǎn)品的健壯性，從而提高了產(chǎn)品的可靠性。

　　由于在生產(chǎn)試驗階段采用了HASS，所需總試驗時間減少了很多，從而能夠更快地打開產(chǎn)品市場。應用HALT&HASS試驗方法后，原需花費六個月至一年的新品可靠性試驗，現(xiàn)僅需一周時間即可完成，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，故該試驗方式已為新產(chǎn)品上市前所必需通過的考驗。

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